1.Millised on magnetiliste paksusmõõturite mõõtmismeetodid, eelised ja puudused?
Põhimõte: see on kõige põhilisem ja laialdasemalt kasutatav meetod. See kasutab magnetilise induktsiooni põhimõtet. Kui sond (sisseehitatud -püsimagnetiga) läheneb ferromagnetilisele substraadile (nagu tsingitud teras või aluminiseeritud tsinkteras), muutub magnetvoo suurus mitte--magnetkatte paksusega (kõik orgaanilised katted, nt polüester, PVDF jne). Seade arvutab katte paksuse selle muutuse mõõtmise teel.
Eelised:
Kiire, mugav ja kaasaskantav.
Kattepinda ei kahjustata.
Suhteliselt odav ja laialdaselt kasutatav.
Puudused:
Sobib ainult magnetiliste aluspindade jaoks, nagu teras; ei sobi mitte-magnetiliste aluspindade jaoks, nagu alumiinium-magneesium-mangaan ja roostevaba teras.
Mõõtmistäpsust mõjutavad veidi substraadi paksus, pinna kõverus ja põhimiku enda magnetism (nt aluminiseeritud tsinkterase kattekiht võib mõjutada magnetismi), mis nõuab kalibreerimist.
2.Millised on pöörisvoolu paksuse mõõtmise põhimõtted, eelised ja puudused?
Põhimõte: sondi tekitatud kõrgsageduslik{0}}elektromagnetväli indutseerib juhtivas substraadis (nt alumiiniumis, vases või roostevabas terases) pöörisvoolu. Pöörisvoolude intensiivsus on seotud sondi ja substraadi vahelise kaugusega (st katte paksusega). Katte paksus määratakse pöörisvoolude muutuste mõõtmise teel.
Eelised:
Sobib mitte-magnetilistele metallalustele, nagu alumiinium-magneesium-mangaanplaadid.
Samuti mittepurustav, kiire ja kaasaskantav.
Puudused:
Ei sobi magnetiliste aluspindade, näiteks terase jaoks.
Täpsust mõjutavad ka sellised tegurid nagu substraadi juhtivus ja paksus.
Kasutusstsenaariumid: kasutatakse peamiselt alumiinium{0}}põhiste värvidega-kaetud poolide katte paksuse mõõtmiseks.
3.Millised on ristlõikemikroskoopia põhimõtted, eelised ja puudused?
Põhimõte:
Eelkaetud terasrullist lõigatakse-väike proov.
Proov on inkrusteeritud ja kõvendatud vaiguga.
Inkrusteeritud näidise ristlõige{0}} on peeneks lihvitud ja poleeritud, et luua peeglitaoline pind.
Seda ristlõiget vaadeldakse mikroskoobi all ja katte kogupaksust (sh krunt ja pealiskiht) mõõdetakse otse joonlaua abil; krundi ja pealisvärvi paksust saab isegi eraldi mõõta.
Eelised:
Suurim täpsus; vahekohtu ja teadusuuringute standardmeetod.
Selgelt on näha kattekihi kihiline struktuur, ühtlus ja nakkumine aluspinnaga.
Puudused:
Keeruline töö,{0}}aeganõudev ja kulukas.
Proovi püsiv kahjustus.
Nõuab erivarustust ja kvalifitseeritud operaatoreid.
4.Millised on mikromeetri mõõtmismeetodi põhimõtted, eelised ja puudused?
Põhimõte:
Mõõtke kaetud värviga kaetud teraslehe kogupaksus (T1) suure täpsusega-mikromeetriga.
Eemaldage kattekiht väikeselt alalt täielikult keemilise värvieemaldi või mehaaniliste meetoditega (nt liivapaber) ilma aluspinda kahjustamata.
Mõõtke pärast katte eemaldamist mikromeetriga uuesti samast kohast substraadi paksus (T2).
Katte paksus=T1 - T2.
Eelised:
Meetod on lihtne ja intuitiivne, ei nõua kalleid seadmeid.
Puudused:
Täpsus on suhteliselt madal, seda mõjutavad mikromeetri täpsus ja operaatori tehnika.
See on hävitav test.
Värvi eemaldamise protsess võib olla mittetäielik või kahjustada aluspinda, põhjustades vigu.
5. Millised on peamised ettevaatusabinõud mõõtmise ajal?
Kalibreerimine: enne mittepurustava paksusmõõturi kasutamist tuleb nullimine ja kalibreerimine läbi viia samast materjalist aluspinnal, kasutades standardset lehte. Näiteks kui mõõta värviga-kaetud rulli alumiinium-tsingiga kaetud aluspinnaga, tuleb kalibreerimine läbi viia katmata alumiinium-tsingiga kaetud lehel.
Substraadi mõju: magnetilise paksuse mõõturid on tundlikud aluspinna paksuse ja magnetismi suhtes. Kui aluspind on liiga õhuke (nt alla 1 mm), tuleks mõõtmise ajal toestamiseks kasutada samast materjalist piisavalt paksu substraati või kasutada spetsiaalselt õhukeste aluspindade jaoks mõeldud sondi.
Mõõtmispunkti valik: ühe{0}}punkti mõõtmised ei ole tüüpilised. Mõõtmiseks tuleks plaadi pinnale vastavalt standarditele (nt ASTM B499, ISO 2178) valida ühtlaselt mitu punkti (tavaliselt vähemalt 5 punkti) ja seejärel arvutada keskmine väärtus. Erilist tähelepanu tuleks pöörata plaadi servadele ja keskele.
Pinna puhtus: Mõõtepunktid peavad olema puhtad ning tolmu-, õli- ja muude võõrkehadeta.
Kumeruse mõju: Kumerate pindade mõõtmisel tuleks kasutada väikese raadiusega või spetsiaalset sondi ning arvestada kõveruse mõju näidule.
Rakendusstandardid: mõõtmised peavad vastama asjakohastele riiklikele või rahvusvahelistele standarditele, nagu Hiina GB/T, Ameerika Ühendriikide ASTM ja rahvusvahelised ISO standardid. Need standardid pakuvad üksikasjalikke eeskirju mõõtmismeetodite, punktide valiku ja tulemuste töötlemise kohta.